LGA-4500（旁路型）激光在線氣體分析系統
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人氣：1401 發布時間：2008-05-22 15:02 關鍵詞：其它 產品型號： 應用領域：電磁輻射 產品價格：面議 想了解更多產品詳情，請 |
LGA-4500系列激光過程氣體分析系統是基于半導體吸收光譜（DLAS）技術的旁路過程氣體分析產品，可對各類高粉塵、高壓過程氣體進行旁路處理后的在線分析。
特 點:
■ 基于半導體吸收光譜技術的旁路分析產品，測量精度高、漂移小系統以高穩定性、低噪聲的半導體激光器為光源，采用半導體激光吸收光譜 (DLAS) 技術的旁路氣體分析系統。由于有效克服了背景氣氣體組份、粉塵顆粒、光源變化等因素對測量的影響，系統不僅擁有抗干擾能力強，檢測靈敏度高的特點，還具有測量漂移小、可靠性高等優勢。
■ 高溫、強腐蝕性氣體的在線檢測
系統采用非接觸光學檢測技術，可對各類高溫氣體（超過140℃）進行直接分析；針對各類腐蝕環境下的檢測應用，系統可選配316L、Monel、PTFE等多種材質的測量氣室，滿足各類應用要求。
■ 安裝于過程管道現場的旁路處理系統，可靠性高、響應速度快
基于半導體激光吸收光譜（DLAS）獨特的技術優勢，系統可采用熱法處理（預處理系統加熱至100℃以上）和分析，旁路處理裝置無運動部件，可靠性高；系統環境適應能力強，可直接安裝在過程管道處取樣、處理和分析，響應速度快。
■ 全系統防爆，支持氣體溫度、壓力補償
系統（包括旁路處理裝置）全部采用防爆設計，可滿足各類危險區域的應用要求，安全可靠。同時，系統還可選溫度、壓力傳感模塊，可對氣體溫度、壓力進行實時監測和補償，滿足高精度測量要求。
系統組成：
LGA-4500 激光過程氣體分析系統由發射單元、接收單元和測量氣室組成，發射單元發射探測激光并穿過測量氣室，由接收單元的光電傳感器接收，經光譜分析后傳輸到發射單元進行處理和顯示。
技術參數：
技術指標
線性誤差 ：≤±1％ F.S.
量程漂移 ：≤±1％ F.S. /半年
重復性誤差 ：≤±1％ F.S.
防爆等級 ：ExpxmdIICT5
防護等級 ：IP65
響應時間
預熱時間 ：≤15 Min
響應時間 ：≤5S（T90）
接口信號
模擬量輸出 ：2路4-20mA，隔離、最大負載750?
繼電器輸出 ：3路繼電器，規格24V，1A
數字通訊 ：RS485（可選RS232/GPRS）
電氣特性 ：
電源 ：100～240VAC/48～63Hz
功耗 ：最大15W（無伴熱）
EMC ：IEC 61000-4-2 IEC 61000-4-4 IEC 61000-4-5
電氣安全 ：IEC 1010-1
保險絲 ：250VAC/1A
樣氣條件：
樣氣壓力 ：0.5 ～ 3 bar（絕對壓力）
樣氣溫度 ：－30℃～140℃
工作條件
工作環境溫度 ：-30℃～+60℃
存儲溫度 ：-40℃～+80℃
正壓吹掃氣體 ：0.3 Mpa凈化儀表空氣或工業氮氣
